乐 麦 夫 教 育 电 子 信 息 - 集 成 电 路 紧 缺 人 才 培 养 计 划 集 成 电 路 设 计 系 列 培 训 课 程 超 大 规 模 集 成 电 路 可 测 性 设 计 (DFT) 技 术 与 实 践 培 训 课 程 VLSI DFT Technology and Practice 第 一 期 中 国. 上 海 2016 年 4月 22 日 4 月 23日 各 有 关 单 位 : 为 贯 彻 落 实 国 家 集 成 电 路 产 业 发 展 推 进 纲 要, 助 推 工 业 和 信 息 化 部 软 件 和 集 成 电 路 人 才 培 养 计 划 的 实 施, 培 养 一 批 掌 握 核 心 关 键 技 术 处 于 世 界 前 沿 水 平 的 中 青 年 专 家 和 技 术 骨 干, 以 高 层 次 人 才 队 伍 建 设 推 动 共 性 关 键 性 基 础 性 核 心 领 域 的 整 体 突 破, 促 进 我 国 软 件 集 成 电 路 产 业 持 续 快 速 发 展, 由 国 家 集 成 电 路 封 测 产 业 链 技 术 创 新 战 略 联 盟 深 圳 市 半 导 体 行 业 协 会 主 办, 上 海 乐 麸 教 育 科 技 有 限 公 司 中 科 院 深 圳 先 进 技 术 研 究 院 ( 先 进 电 子 封 装 材 料 广 东 省 创 新 团 队 ) 上 海 张 江 创 新 学 院 深 圳 集 成 电 路 设 计 产 业 化 基 地 管 理 中 心 电 子 科 技 大 学 机 电 工 程 学 院 承 办 的 集 成 电 路 可 测 性 设 计 技 术 IC DFT Technology Training Course 专 题 培 训 班, 特 邀 请 上 海 盈 方 微 电 子 DFT 技 术 经 理 贺 海 文 GLOBALFOUNDRIES 中 国 芯 片 设 计 中 心 ( 原 IBM 中 国 芯 片 设 计 中 心 )DFT 经 理 吕 寅 鹏 担 任 授 课 教 师 此 次 精 心 设 计 的 理 论 与 实 践 相 结 合 的 培 训 课 程, 将 涉 及 到 超 大 规 模 集 成 电 路 可 测 性 设 计 领 域 最 先 进 的 DFT EDA 工 具, 最 新 DFT 技 术 和 集 成 技 术 解 决 方 案, 包 括 TestKompress TetraMAX TessentMBIST MBISTArchitect At-speed SCAN TessentBoundaryScan SCAN Chain Compression At-speed MBIST Cell-Aware ATPG ATPG Hierarchy scan LogicBIST/SCAN Hybird IP test 等 ; 同 时 还 将 重 点 讨 论 长 期 困 扰 大 多 数 同 行 的 常 见 技 术 难 题 及 其 对 应 的 策 略 与 建 议 : 包 括 可 测 性 设 计 技 术 发 展 历 史 和 现 状 可 测 性 设 计 的 主 要 原 理 如 何 进 行 全 芯 片 级 的 可 测 性 设 计 如 何 建 立 可 测 性 设 计 的 设 计 流 程 如 何 进 行 可 测 性 设 计 的 质 量 检 查 如 何 提 高 测 试 覆 盖 率 如 何 进 行 低 功 耗 测 试 如 何 通 过 合 理 设 计 降 低 测 试 成 本 如 何 有 效 通 过 测 试 向 量 的 调 试 提 高 产 品 良 率 如 何 进 行 通 过 DFT 技 术 实 现 芯 片 故 障 的 诊 断 如 何 与 1/14
测 试 工 程 师 协 同 工 作 如 何 在 整 个 芯 片 设 计 流 程 中 与 前 端 及 后 端 工 程 师 协 同 工 作 等 通 过 对 这 些 技 术 问 题 的 深 入 讨 论 与 适 用 技 术 培 训, 将 有 助 于 快 速 提 升 工 程 师 或 相 关 技 术 人 员 的 对 DFT 技 术 的 理 解 与 应 用 能 力, 解 决 实 际 工 作 中 DFT 有 关 的 技 术 问 题, 尽 快 通 过 ATE 的 测 试, 确 保 最 终 芯 片 产 品 的 质 量 可 靠 性, 加 速 产 品 的 上 市, 提 升 企 业 产 品 的 竞 争 力 将 有 助 于 集 成 电 路 设 计 企 业 更 好 地 制 定 产 品 可 测 试 设 计 研 发 测 试 需 求 定 义 产 品 测 试 规 格 以 及 测 试 方 案, 同 时 主 办 方 将 建 立 DFT 技 术 交 流 群, 以 利 于 促 进 集 成 电 路 与 半 导 体 产 业 生 态 圈 的 同 行 之 间 更 好 地 合 作 与 交 流 现 将 有 关 事 宜 通 知 如 下 : 一 主 办 单 位 : 上 海 乐 麸 教 育 科 技 有 限 公 司 上 海 张 江 创 新 学 院 二 参 加 对 象 课 程 面 向 相 关 电 子 信 息 与 集 成 电 路 企 业 ( 包 括 晶 圆 制 造 厂 集 成 电 路 设 计 公 司 集 成 电 路 IP 供 应 商 高 校 及 研 究 院 所 ) 的 在 校 大 学 生 研 究 生 研 究 员 大 学 教 授 企 业 高 管 技 术 主 管 前 端 设 计 工 程 师 后 端 设 计 工 程 师 电 路 工 程 师 ESD/IO 设 计 工 程 师 模 拟 电 路 设 计 封 装 设 计 工 程 师 以 及 项 目 主 管 业 务 经 理 等, 有 职 业 转 型 规 划 的 DFT 工 程 师 数 字 前 端 设 计 工 程 师 器 件 工 艺 工 程 师 等 以 及 相 关 行 业 市 场 研 究 人 员 与 VC 投 资 者 课 程 PPT 为 中 英 文, 授 课 为 中 文 三 课 程 安 排 培 训 时 间 :2016 年 4 月 22 日 -4 月 23 日 ( 共 二 天 ) 培 训 地 点 : 中 兴 和 泰 酒 店 二 楼 会 议 厅 上 海 市 浦 东 新 区 张 江 高 科 技 园 区 科 苑 路 866 号 课 程 体 系 : 1) 理 论 与 方 法 学 集 中 授 课 : 2016 年 4 月 22 日 -23 日 ( 共 二 天 ), 老 师 将 系 统 讲 授 DFT 技 术 与 验 证 的 方 法 学 与 流 程,DFT 项 目 演 示 2) 课 后 云 端 项 目 案 例 实 训 :2016 年 5 月 02 日 -8 月 01 日 ( 共 三 个 月 ), 课 后 给 每 个 学 员 提 供 云 端 服 务 器 登 录 账 号, 学 员 根 据 项 目 实 训 手 册,EDA 软 件 ( 业 界 主 流 数 字 DFT 设 计 验 证 工 具 ) 及 项 目 数 据 database,, 授 课 老 师 提 供 技 术 支 持 与 答 疑 3) 培 训 班 结 束 后, 将 颁 发 上 海 乐 麸 教 育 - 超 大 规 模 集 成 电 路 可 测 性 设 计 技 术 与 实 践 技 能 证 书 2/14
参 加 培 训 者 可 推 荐 参 加 国 家 软 件 和 集 成 电 路 人 才 培 养 计 划 评 选 四 培 训 费 用 本 次 课 程 培 训 费 4000 元 / 人 ( 含 授 课 费 场 地 费 资 料 费 培 训 期 间 午 / 晚 餐 证 书 以 及 纪 念 品 ), 学 员 交 通 食 宿 等 费 用 自 理 ( 开 课 前 将 提 供 相 关 协 议 酒 店 信 息 供 选 择 ) 请 于 2016 年 4 月 12 日 前 将 课 程 培 训 费 汇 至 如 下 银 行 账 号 户 名 : 上 海 乐 麸 教 育 科 技 有 限 公 司 开 户 行 : 中 信 银 行 上 海 张 江 支 行 帐 号 :8110201013300125043 五 报 名 方 式 请 各 单 位 收 到 通 知 后, 积 极 选 派 人 员 参 加 报 名 截 止 日 期 为 2016 年 4 月 12 日, 请 在 此 日 期 前 将 报 名 回 执 表 发 送 Email 至 乐 麦 夫 教 育 组 委 会 乐 麦 夫 教 育 : 地 址 : 上 海 市 张 江 高 科 技 园 区 祖 冲 之 路 2305 号 B 幢 1204 室 联 系 人 : 谭 乐 怡 手 机 :13761333522 电 话 :021-50610125 400-870-1360 Email:vsa.tan@lemaifu.com 附 件 :1. 报 名 回 执 表 2. 课 程 介 绍 3. 课 程 大 纲 4. 授 课 专 家 简 介 5. 主 办 单 位 介 绍 training@lemaifu.com 3/14
附 件 2: 课 程 介 绍 随 着 芯 片 复 杂 度 的 提 高, 工 业 界 先 进 的 超 大 规 模 集 成 电 路 芯 片 的 测 试 成 本 已 经 达 到 整 个 芯 片 开 发 成 本 的 70% 现 在,DFT 技 术 已 经 成 为 保 证 芯 片 质 量 和 公 司 质 量 信 誉, 降 低 测 试 成 本 的 关 键 技 术 芯 片 可 测 试 验 性 设 计 (Design For Test) 已 成 为 当 今 超 大 规 模 集 成 电 路 开 发 流 程 中 的 重 要 环 节 本 课 程 将 结 合 工 程 实 践 讨 论 与 分 享 主 流 DFT 工 具 的 使 用, 最 新 量 产 的 芯 片 可 测 性 设 计 技 术 方 案, 并 将 重 点 谈 论 集 成 电 路 可 测 性 设 计 的 主 要 原 理 降 低 测 试 成 本 的 主 要 途 径 提 高 测 试 覆 盖 率 的 主 要 方 法 DFT 设 计 规 则 芯 片 量 产 提 高 良 率 的 方 法 故 障 分 析 及 验 证 技 术 方 法 DFT 的 相 关 流 程 的 建 立,DFT 设 计 结 果 评 判 与 验 证 Checklist 等 工 程 技 术 课 程 还 将 讨 论 到 最 新 的 DFT 技 术 的 发 展 现 状 和 行 业 领 跑 者 的 革 新 技 术, 包 括 2.5D/3D Test 技 术, Physical aware scan insertion 技 术,Channel Sharing of scan 技 术, Cell-Aware ATPG 技 术,ATPG Hierarchy scan 技 术,LogicBIST/SCAN Hybrid 技 术, IJTAG(IEEE 1687) 等 With the increase of complexity of chips, the test cost of advanced chips in industry has reached 70% of the development cost of the entire design. Nowadays, Design-For-Test (DFT) technology has become a key technology to ensure the quality of the chip and the reputation of the company, and to reduce the cost of chip design. DFT process has become an indivisible part of the development process of large scale integrated circuit. This course will cover comprehensive DFT related topics, include introduction of mainstream DFT EDA Tools, widely used DFT methodologies, leading edge DFT technologies, as well as frequently see DFT issues in DFT architect, design, debug and ATE test. Meanwhile, the course will focus on the experience sharing of DFT related engineering skills, include methods to reduce test cost, methods to improve test coverage, method to improve yield of mass production, best practice of fault analysis and verification, as well as DFT sign-off checklist.. Moreover, this course will share with you a broad view of entire DFT 4/14
industry, include the history, current status as well as future of DFT skill. Especially, some leading edge DFT technologies to deal with design challenge will be introduced, eg. 2.5D/3D stacked IC Test, Physical Aware Scan Insertion Technology, Cell aware ATPG technique, ATPG Hierarchy scan technique, LBIST/SCAN Hybrid technique, IJTAG(IEEE 1687) and so on. 5/14
附 件 3: 课 程 大 纲 授 课 讲 师 授 课 内 容 Fred Lv ( 吕 寅 鹏 ) 课 程 大 纲 1-8 Kevin He ( 贺 海 文 ) 课 程 大 纲 9-16 1 DFT overview DFT 概 述 What is and Why DFT VLSI implementation process Manufacturing Defect Manufacturing Test Automatic Test Equipment (ATE) introduction 2 Test and fault 测 试 和 故 障 Observability and Controllability Role of Test Test Development Flow Real Tests DFT Cost Fault Modeling 3 DFT Methods introduction DFT 方 法 学 介 绍 DFT Methods Ad Hoc DFT 6/14
Scan Basic Concept MBIST Basic Concept LBIST Basic Concept BSCAN Basic Concept JTAG Architecture IP Test 4 Mainstream DFT EDA tools and chip DFT integrated solutions 主 流 DFT 工 具 与 芯 片 DFT 技 术 介 绍 DFT Compiler (DC) Mentor Testkompress/TessentMbist/TessentBoundaryScan Synopsys TetraMAX Cadence Modus DFT integrated solutions 5 Scan introduction ( with DFT compiler) 芯 片 scan 技 术 介 绍 Understanding Scan Testing Scan Chain Insertion Flow Preview Test Protocols and DRC Test Ready Compile Top Down Scan Insertion Flow Bottom Up Scan Insertion Flow Scan Compression method(xor vs OPMISR) Lab DFT Compiler introduce 7/14
6 ATPG introduction 芯 片 ATPG 技 术 介 绍 What is testing and ATPG Stuck at ATPG Transition ATPG Path delay ATPG IDDQ ATPG D algorithm 7 ATPG implementation ( with TestKompress/TetraMAX Lab) 芯 片 ATPG 技 术 实 现 ATPG Flow Preview Building Design Design Rules Check Controlling ATPG Saving Pattern and Pattern Validation Lab TestKompress/TetraMAX introduce 8 Understanding MBIST 芯 片 MBIST 技 术 介 绍 Why Memory testing is required? Memory Faults Memory Testing Techniques Memory BIST algorithms Memory interface test (RAM Sequential Test) 8/14
9 MBIST Implement ( with Tessent MBIST Lab) 芯 片 MBIST 技 术 实 现 Tessent MBIST generation and insertion flow ETChecker Introduction Block Flow Planning with ETPlanner ETAssemble and ETSignoff in the Block Flow Memory BIST Hierarchical Top Level Flow MBIST Diagnostics Tessent MBIST parameters setting Lab Tessent MBIST introduce 10 DFT latest innovative technologies 最 新 的 DFT 技 术 介 绍 Channel Sharing of scan Cell aware ATPG technique ATPG Hierarchy scan technique Logic BIST/SCAN Hybrid technique Physical aware scan insertion 2.5D/3D Test IJTAG(IEEE 1687) Partial Good Test 11 DFT Flow and tools 芯 片 项 目 中 的 DFT 流 程 和 工 具 DFT engineer 5 tasks DFT flow (top and block level) 9/14
DFT flow inputs/outputs in each step DFT tools (flow used) 12 DFT SPEC and Checklist 芯 片 项 目 中 的 DFT 规 格 书 和 检 查 表 DFT spec of one chip DFT check-list in project DFT patterns check-list 13 Frequently see DFT problems (DFT architecture) 工 程 实 践 中 的 DFT 常 见 问 题 ( 架 构 方 案 ) Consider the three keys for DFT - Test costs/quality/yield Define the whole chip DFT SPEC and test plan Implement Low-power scan inserting Implement Low-power MBIST Implement Low-power ATPG 14 Frequently see DFT problems (Design and debug) 工 程 实 践 中 的 DFT 常 见 问 题 ( 电 路 设 计 和 调 试 ) Tessent MBIST debug skills Improve the scan test coverage Insert test points InsertOn-Chip Clock Control Deliver the DFT related SDC files for timing DFT timing issue debug Debug the mismatches in scan/mbist/bscan simulation 10/14
15 Frequently see DFT problems (ATE test) 工 程 实 践 中 的 DFT 常 见 问 题 (ATE 测 试 ) Troubleshooting Test Patterns ATE patterns fail - debug Scan diagnose flow Fault analysis Improve the yield 16 DFT Summary DFT 小 结 The history and DFT The current situation of DFT The future of DFT DFT EDA tools compare and evaluate Thinking Design in DFT How to be a good DFT engineer The course summary 11/14
附 件 4: 授 课 专 家 介 绍 贺 海 文 Kevin He 上 海 盈 方 微 电 子 有 限 公 司 芯 片 可 测 试 性 设 计 DFT 技 术 经 理 贺 海 文 先 生 在 2015 年 8 月 加 入 上 海 盈 方 微 电 子 有 限 公 司, 组 建 了 芯 片 可 测 试 性 设 计 团 队 (DFT Team), 目 前 担 任 该 部 门 的 负 责 人, 带 领 团 队 负 责 数 字 芯 片 DFT 方 案 制 定,DFT 设 计 验 证,DFT 诊 断 分 析 与 工 具 评 估 等 工 作, 同 时 负 责 有 关 的 设 计 流 程 方 法 学 开 发 与 技 术 管 理 工 作 贺 海 文 先 生 曾 供 职 英 飞 凌 微 电 子,Intel 资 深 DFT 工 程 师, 灿 芯 半 导 体 DFT 主 任 工 程 师, 现 任 上 海 盈 方 微 DFT 部 门 主 管, 主 要 从 事 VLSI/SOC 产 品 的 DFT 相 关 工 作 Kevin 是 国 内 第 一 批 在 专 业 芯 片 设 计 公 司 从 事 DFT 设 计 的 工 程 师, 有 10 年 以 上 DFT 设 计 和 验 证 的 丰 富 经 验, 对 DFT 技 术 有 深 刻 认 识, 实 战 经 验 丰 富, 完 成 了 多 款 大 规 模 量 产 基 带 芯 片 SOC 的 DFT 设 计 在 加 入 盈 方 微 之 前,Kevin 曾 在 国 际 一 流 的 芯 片 设 计 公 司 Intel 工 作 超 过 3 年, 在 2011-2013 年 期 间, 参 与 了 手 机 基 带 芯 片 项 目 的 DFT 设 计 和 验 证, 完 成 了 多 颗 复 杂 手 机 基 带 SOC 芯 片 ( 如 XG632/XG631) 的 一 次 性 成 功 Tapeout 的 设 计 在 灿 芯 半 导 体 工 作 期 间, 负 责 完 成 了 国 内 第 一 款 40nm 级 北 斗 基 带 射 频 SOC 芯 片 的 全 部 DFT 方 案 的 规 划 设 计 验 证 以 及 量 产 测 试 的 技 术 支 持 工 作 贺 海 文 先 生 在 2005 年 获 得 清 华 大 学 集 成 电 路 设 计 与 制 造 学 士 学 位, 是 EETOP 的 特 约 作 者, 发 表 多 篇 技 术 文 章, 翻 译 完 成 国 外 经 典 教 材 数 字 系 统 测 试 和 可 测 试 性 设 计 ( 已 由 机 械 工 业 出 版 社 出 版 ), 同 时 作 为 DFT 专 家, 多 次 在 公 司 内 部 主 持 DFT 相 关 培 训 讲 座 12/14
吕 寅 鹏 Fred Lv 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 ( 上 海 ) 有 限 公 司 芯 片 可 测 试 性 设 计 高 级 经 理,DFT 技 术 专 家 吕 寅 鹏 先 生 在 2015 年 7 月 由 于 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 有 限 公 司 整 体 收 购 IBM 全 球 半 导 体 业 务 而 加 入 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 有 限 公 司 (GLOBALFOUNDREIS) 目 前 担 任 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 有 限 公 司 中 国 芯 片 设 计 中 心 的 高 级 经 理 职 务, 并 且 作 为 DFT 技 术 专 家 领 导 中 国 DFT 设 计 团 队 在 加 入 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 有 限 公 司 之 前, 吕 寅 鹏 服 务 于 IBM 中 国 芯 片 设 计 中 心, 专 注 于 芯 片 可 测 性 设 计 工 作, 组 建 并 领 导 了 IBM 中 国 芯 片 设 计 中 心 的 芯 片 可 测 性 设 计 团 队 吕 寅 鹏 先 生 拥 有 丰 富 的 芯 片 可 测 性 设 计 经 验 和 经 历 他 目 前 承 担 的 职 责 包 括 但 不 限 于 : 芯 片 售 前, 设 计 执 行 以 及 硬 件 调 试 阶 段 的 DFT 解 决 方 案 的 技 术 指 导 和 监 督 ; 中 国 DFT 团 队 的 建 设 以 及 技 术 能 力 的 培 养 ; 通 过 全 球 合 作, 整 合 DFT 方 法 学 开 发 与 设 计 实 践, 满 足 客 户 的 定 制 化 需 求 在 8 年 多 的 职 业 生 涯 中, 吕 寅 鹏 曾 经 为 16 块 采 用 IBM 和 GLOBALFOUNDRIES 先 进 工 艺 的 超 大 规 模 网 络 通 信 以 及 大 型 服 务 器 配 套 芯 片 设 计 DFT 解 决 方 案, 并 且 实 现 了 成 功 流 片 和 测 试 吕 寅 鹏 在 DFT 领 域 发 表 过 3 篇 专 利 ( 美 国 ), 并 且 在 2015 年 由 于 对 IBM Cu32(32nm) 工 艺 ASIC 芯 片 的 DFT 解 决 方 案 的 杰 出 贡 献 获 得 了 IBM 公 司 的 杰 出 技 术 成 就 奖 (Outstanding Technical Achievement Award) 吕 寅 鹏 先 生 分 别 于 2008 年 和 2005 年 获 得 上 海 交 通 大 学 电 子 工 程 系 硕 士 和 学 士 学 位 他 拥 有 丰 富 的 公 开 演 讲 经 验, 曾 多 次 应 邀 作 为 演 讲 嘉 宾, 访 问 上 海 交 通 大 学, 复 旦 大 学 以 及 西 安 交 通 大 学 等 高 校, 进 行 DFT 相 关 技 术 讲 座 并 于 2015 年 应 邀 做 为 Cadence CDNLive 演 讲 嘉 宾, 代 表 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 有 限 公 司 发 表 主 题 演 讲, 介 绍 了 格 罗 方 德 半 导 体 科 技 公 司 先 进 的 DFT 技 术 --PGT (Partial Good Test) 技 术 13/14
附 件 5: 主 办 单 位 介 绍 R 乐 麦 夫 教 育, 是 国 内 首 家 专 注 提 供 电 子 信 息 与 集 成 电 路 全 领 域 ( 包 括 集 成 电 路 设 计 芯 片 封 装 设 计 高 速 系 统 设 计 信 号 完 整 性 与 电 源 完 整 性 SI/PI/EMC /EMI IBIS/AMI Modeling 晶 圆 制 造 封 装 制 造 测 试 半 导 体 设 备 与 原 材 料 系 统 软 硬 件 等 ) 技 能 类 培 训 课 程 的 教 育 机 构 乐 麦 夫 目 前 承 担 国 家 软 件 和 集 成 电 路 人 才 培 养 计 划 和 高 端 装 备 人 才 培 养 计 划 的 组 织 实 施 工 作 与 集 成 电 路 半 导 体 行 业 资 源 企 业 一 线 资 深 工 程 师 国 际 顶 尖 研 究 机 构 的 紧 密 合 作, 应 用 便 利 的 互 联 网 大 数 据 云 计 算 等 最 新 技 术, 将 最 适 用 的 职 业 技 能, 通 过 灵 活 的 在 线 课 程 服 务 于 全 球 的 高 校 大 学 生 企 业 员 工, 同 时 也 推 出 线 下 专 题 类 公 开 技 能 课 程, 旨 在 为 我 国 的 半 导 体 企 业 与 电 子 产 品 系 统 公 司 定 向 培 养 与 输 送 高 质 量 的 紧 缺 技 能 人 才 ; 同 时 为 整 个 行 业 上 下 游 产 业 链 的 工 厂 企 业 与 公 司, 建 立 一 个 合 作 与 共 赢 的 生 态 圈, 包 括 资 源 共 享 市 场 推 广 业 务 对 接 等 乐 麦 夫 讲 师 导 师 团 队 来 自 业 内 著 名 企 业 (Intel 华 为 海 思 紫 光 展 讯 Cadence Synopsys 美 满 科 技 NVIDIA AMD 日 月 光 中 芯 国 际 等 ) 的 一 线 工 程 师 和 技 术 专 家 ; 和 相 关 资 源 平 台 合 作, 乐 麦 夫 拥 有 业 内 最 全 的 EDA 工 具 与 高 速 云 服 务 器 资 源, 提 供 和 企 业 同 步 的 设 计 仿 真 分 析 的 项 目 实 训 环 境 ; 借 助 于 移 动 互 联 网 与 随 时 随 地 可 以 访 问 的 云 端 资 源, 充 分 利 用 互 联 网 线 上 直 播 视 频 录 播 结 合 线 下 面 授 专 题 培 训 灵 活 的 学 习 模 式, 为 高 校 学 生 年 轻 教 师 企 业 在 职 工 程 师 提 供 适 用 的 职 业 技 能 学 习 与 培 训 : 1) 作 为 高 校 理 论 教 学 的 补 充, 为 社 会 企 业 培 养 具 备 企 业 岗 位 专 业 技 能 上 岗 或 入 职 后 能 直 接 适 应 企 业 的 实 际 岗 位 工 作 的 紧 缺 型 技 能 人 才 ; 2) 帮 助 高 校 年 轻 教 师 更 新 与 提 升 专 业 技 能, 在 传 授 理 论 的 同 时 能 更 好 地 培 养 符 合 企 业 岗 位 需 求 的 人 才, 并 提 高 产 学 研 结 合 的 竞 争 能 力 ; 3) 提 供 在 职 工 程 师 可 以 终 身 学 习 并 提 高 自 己 职 业 技 能 与 就 业 竞 争 力 的 有 效 途 径 和 深 造 平 台 上 海 张 江 创 新 学 院 (ZJII), 是 在 商 务 部 和 上 海 市 政 府 浦 东 新 区 区 委 和 区 政 府 的 领 导 下, 上 海 张 江 创 新 学 院 诞 生 于 2006 年 10 月, 是 上 海 张 江 ( 集 团 ) 有 限 公 司 负 责 承 办 的 一 个 大 学 学 历 后 学 位 后 高 层 次 职 业 培 训 机 构 上 海 张 江 创 新 学 院 拥 有 软 件 与 信 息 技 术 分 院 微 电 子 设 计 与 应 用 分 院 和 科 技 创 业 培 训 分 院 等 七 家 分 院 ; 上 海 张 江 创 新 学 院 向 上 海 市 其 他 社 会 培 训 机 构 输 出 品 牌 和 培 训 管 理 14/14