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1 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 本章目录 4.1 硅工艺概述 4.2 材料生长与淀积 4.3 刻蚀 4.4 CMOS 工艺流程 4.5 设计规则 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 硅工艺概述 平面工艺, 多层加工 以硅圆片为单位制作 硅圆片及其芯片部位 圆片的直径 :100~300mm 圆片的厚度 :0.4~0.7mm 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 2

2 4.1 硅工艺概述 集成电路成本 (1) 固定成本固定成本与销售量无关 包括基础设施和生产设备的建设费用 ; 研发费用 ; 人工费用等 (2) 可变成本可变成本是指直接用于制造产品的费用, 与产品的产量成正比 芯片成本 + 芯片测试成本 + 芯片封装成本可变成本 = 最终测试的成品率 固定成本每个集成电路的成本 = 每个集成电路的可变成本 + 产量 经济学观点 : 提高成品率将降低每个集成电路的成本, 因此成品率分析很重要 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 硅工艺概述 成品率 Y Y = N N G T 100% N N G T : 功能正确的芯片数目 : 芯片的总数目 N T 2 π ( d 2) = A die πd 2A die A die : 芯片面积 d: 圆片直径 D Adie Y = ( 1+ ) α α 圆片成本芯片成本 = N G D: 缺陷密度, 单位 : cm 2 α: 与制造工艺复杂性相关的参数 对于现代复杂的 CMOS工艺, α 3 芯片成本 = f 4 ( 芯片面积 ) 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 4

3 4.1 硅工艺概述 集成电路加工的基本操作 形成某种材料的薄膜 在各种薄膜材料上形成需要的图形 通过掺杂改变材料的电阻率或杂质类型 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 材料生长与淀积 形成薄膜的方法 热氧化 物理气相淀积 (PVD) 化学气相淀积 (CVD) 二氧化硅 SiO 2 称为石英玻璃, 电阻率约为 Ω cm SiO 2 是一种极好的电绝缘体 SiO 2 能很好地附着在大多数材料上 SiO 2 可生长在硅圆片上或淀积在硅圆片上面 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 6

4 4.2 材料生长与淀积 1 热氧化层生长 反应式 : 干氧 :Si+O 2 SiO 2 湿氧 :Si+2H 2 O SiO 2 +2H 2 消耗的硅层厚度 :xsi 0. 46x ox 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 材料生长与淀积 2 化学气相淀积 (CVD) 氧化工艺气态物质通过化学反应在材料表面形成薄膜 适宜晶圆表面已覆盖氧化层情况 反应式 : SiH 4 ( 气 )+2O 2 ( 气 ) SiO 2 ( 固 )+2H 2 O( 气 ) 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 8

5 4.2 材料生长与淀积 氮化硅 用于表面覆盖, 对大多数物质原子有阻挡作用, 防污染 介电常数较大 : ε 7.8ε N 制造过程中用来在电气上隔离相邻场效应管 同 SiO 2 一样, 能被化学漂洗掉 0 反应式 : 3SiH 4 ( 气 )+4NH 3 ( 气 ) Si 3 N 4 ( 固 )+12H 2 ( 气 ) 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 材料生长与淀积 多晶硅 多晶硅 :Poly 层, 形成栅极 在 SiO 2 上淀积硅原子, 形成多晶 ( 局部小区域 Si 原子规则排列 ) Poly 优点 : 反应式 : 可被掺杂, 增强导电性 与 SiO 2 良好接合 SiH 4 Si+2H 2 可覆盖高熔点金属, 如钛 (Ti) 铂 (Pt) 钨 (W) 钴 (Co), 降低薄层电阻 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 10

6 4.2 材料生长与淀积 金属化 铝 : 粘附性好 在真空腔中加热蒸发, 形成蒸铝流体覆盖晶圆 电阻率 ρ = 2.65μΩ cm 缺点 : 电阻率比较大 ; 高电流密度情况下存在电迁移问题, 原子从导线一端移出, 在另一端堆积 I 电流密度 : J = = A I wt 铝的电迁移效应 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 材料生长与淀积 掺杂 扩散 高温过程 离子注入 常温下进行, 注入后需要高温退火处理 掺杂剂原子在腔室中电离 加速到很高能量 质量分离器 射入衬底 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 12

7 4.2 材料生长与淀积 高斯分布的注入剖面 N R N ion p ΔR D ( x) : 穿透的平均深度 p I p = N p e : 穿透深度的标准差 : 峰值密度 = All x N ion 1 x Rp 2 R Δ p ( x) dx D : I 单位面积注入的离子数 2 采用退火法使掺杂剂处于晶格位置上 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 材料生长与淀积 离子注入法的特点 : 掺杂的过程可通过调整杂质剂量及能量来精确的控制, 杂质分布均匀 可进行小剂量的掺杂 可进行极小深度的掺杂 较低的工艺温度, 故光刻胶可用作掩模 可供掺杂的离子种类较多 在大剂量注入时半导体晶格会被严重破坏并很难恢复 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 14

8 4.2 材料生长与淀积 化学机械抛光 (CMP) 平坦化技术 : 将硅片表面变为一平坦表面 采用化学刻蚀和机械 喷沙 在硅圆片上产生平整的表面 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 刻蚀 光刻 : 图形由掩模转移到光刻胶上刻蚀 : 图形由光刻胶转移到光刻胶下面的材料上掩模 : 一块有铬图案的玻璃板 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 16

9 4.3 刻蚀 涂光刻胶 : 滴光刻胶 高速旋转 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 刻蚀 曝光 : 光刻胶与光相互作用, 发生化学反应 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 18

10 4.3 刻蚀 光刻胶 : 根据曝光前后溶解特性的变化, 分为正胶和负胶 正胶 : 曝光前不可溶, 曝光后可溶负胶 : 曝光前可溶, 曝光后不可溶正光刻胶特点 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 刻蚀 例 : 氧化层刻蚀 工艺步骤 : 甩胶 曝光 显影 刻蚀 去胶 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 20

11 4.3 刻蚀 例 : 形成掺杂硅层图案 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 刻蚀 圆片上的芯片部位 芯片用 步进和重复过程 一个一个曝光 洁净间 : 光刻在洁净间完成,X 级的洁净间是指每立方英尺中直径大于 0.5µm 的颗粒应当少于 X 个 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 22

12 4.4 CMOS 工艺流程 1 N 阱 CMOS 工艺 (1)CMOS 制造中起始的几道工序 (a) 有外延层的初始圆片 (b) 在外延层中形成 n 阱 (c) 用氮化物 / 氧化物确定有源区 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 (d) 硅片刻蚀 (e) 场氧生长 (f) 表面去除氮化物 / 氧化物 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 24

13 4.4 CMOS 工艺流程 (2)NMOS 和 PMOS 的形成 (a) 栅氧生长 (b) 多晶硅的淀积和形成图案 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 (c)pselect 掩模与注入 (d)nselect 掩模与注入 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 26

14 4.4 CMOS 工艺流程 (3) 第一层金属互连层 (a) 退火和 CVD 氧化 (b)cvd 氧化层中有源区接触及钨塞形成 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 (c) 金属 1 涂层及图案形成 用同样的方法加入更多的金属层, 金属互连层之间用二氧化硅绝缘 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 28

15 4.4 CMOS 工艺流程 (4) 压焊块 : 芯片内核与封装管壳之间的连接界面 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 2 工艺改进 (1) 轻掺杂漏区 (LDD)FET 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 30

16 4.4 CMOS 工艺流程 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 (2) 硅化物 在栅极两侧形成一定厚度的二氧化硅或氮化硅侧墙, 然后淀积难熔金属并和硅反应形成硅化物 作用 : 减小多晶硅和源 漏区的寄生电阻 ; 减小金属连线和源 漏区接触孔的接触电阻 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 32

17 4.4 CMOS 工艺流程 (3) 铜互连线与铜通孔 铜比铝的电阻率低 40% 左右, 用铜互连代替铝互连可减小互连线的寄生电阻 采用铜互连可减少连线层数 铜易于扩散到二氧化硅中, 会影响器件性能 铜不能用常规的方法制作, 需要特殊的工艺技术 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 CMOS 工艺流程 铜互连线 大马士革镶嵌工艺 刻蚀二氧化硅 淀积铜 ( 电镀 ) 化学机械抛光 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 34

18 4.4 CMOS 工艺流程 铜通孔 双大马士革镶嵌工艺 铜通孔特点 : 铜通孔比钨通孔具有更低的电阻 避免了由标准工艺的铝 钨界面引起的接触电阻 铜易于扩散到二氧化硅中, 铜的周围需要阻挡层 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 设计规则 设计规则 : 指导版图掩模设计的对几何尺寸的一组规定 设计规则的四种主要类别 : 最小宽度 最小间距 离周边距离 露头 w= 对最小宽度的规定 s= 对最小间距的规定 d= 其他一般的最小距离例 :w m1 = 金属 1 的最小宽度 s m1-m1 = 金属 1 和金属 1 之间的最小间距 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 36

19 4.5 设计规则 两条多晶线的设计规则 例 :w p = 多晶线的最小宽度 s p-p = 多晶线与多晶线之间的最小间距 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 设计规则 离周边距离设计规则的例子 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 38

20 4.5 设计规则 没有对准引起的缺陷 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 设计规则 露头设计规则的例子 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 40

21 4.5 设计规则 设计规则的两种形式 : (1) 微米设计规则 : 直接以微米为单位给出各种图形几何尺寸的要求 灵活性大, 能反映实际工艺水平 ; 电路设计可达到最高的集成度 ; 通用性差, 一旦工艺变化, 需重新制定设计规则 (2)λ 设计规则 : 以 λ 为单位给出各种图形几何尺寸的相对值 工艺的最小线宽设为 2λ, 设计规则中所有的几何尺寸均规定为 λ 的整数倍 通用性强, 适合 CMOS 电路按比例缩小的发展规律 ; 电路设计无法达到最高的集成度 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 设计规则 物理极限 (1) 光刻工艺的限制 光的衍射 (2) 刻蚀工艺的限制 各向异性程度 : r A = 1 lat r vert r r lat vert : 横向刻蚀速率 : 纵向刻蚀速率 A = 1, 纯各向异性 ; A = 0, 纯各向同性 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 42

22 4.5 设计规则 (3)n+ 间距的限制 (4) 导线间串扰的限制 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 设计规则 电气规则 金属互连线的允许宽度 ; n+ 间距的限制 ; 相邻两层导线重合面积的限制 ; 有源区与阱的距离 ; 天线效应 第 4 章 CMOS 集成电路的制造 44

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