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1 ICS L 56 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法 Semiconductor intergrated circuits Measuring method of low voltage differential signaling circuitry ( 报批稿 ) GB/T XXXXX XXXX XX - XX 发布 XX - XX 实施

2 目 次 前言...III 1 范围 规范性引用文件 术语和定义 总则 测试环境要求 测试注意事项 静态参数测试 单端数字接口参数测试 输入高电平阈值电压 V TH 输入低电平阈值电压 V TL 输入电流 I IN 电源关断输入漏电流 I IN-OFF 输出 LVDS 高电压 V OHL 输出 LVDS 低电压 V OLL 共模输出电压 V OS 互补态共模输出电压变化 V OS 差分输出电压 V OD 互补态差分输出电压的变化 V OD LVDS 输出短路电流 I OSL 电源关断输出漏电流 I O-OFF LVDS 输出高阻态电流 I OZL 内置差分输入电阻 R IT 内置差分输出电阻 R OT 静态电源电流 I DD 关断电源电流 I DDZ 动态参数测试 输入电容 C I 和输出电容 C O 动态电源电流 I DDA 最大工作频率 f MAX 最小工作频率 f MIN 最大数据率 DR MAX 输出由低电平到高电平传输延迟时间 t PLH 输出由高电平到低电平传输延迟时间 t PHL 输出由高阻态到高电平传输延迟时间 t PZH...22 I

3 6.9 输出由高阻态到低电平传输延迟时间 t PZL 输出由高电平到高阻态传输延迟时间 t PHZ 输出由低电平到高阻态传输延迟时间 t PLZ 输出由低电平到高电平转换时间 t TLH 输出由高电平到低电平转换时间 t THL 脉冲时滞 t SKP 通道间时滞 t SKO 眼图高度 e H 眼图宽度 e W 确定性抖动 D j 随机抖动 R j 总抖动 J t...31 附录 A( 资料性附录 ) 眼图测试对仪器的要求说明...33 II

4 前 言 本标准按照 GB/T 标准化工作导则第 1 部分 : 标准的结构和编写 给出的规定起草 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会 (SAC/TC78/SC2) 归口 本标准起草单位 : 成都振芯科技股份有限公司 工业和信息化部电子工业标准化研究院 工业和信息化部电子第五研究所 深圳国微电子有限公司 众志联合电子有限公司 中国电子科技集团公司第二十九研究所 本标准主要起草人 : 陈雁 罗彬 郭超 王会影 李锟 蔡志刚 邬海忠 钟科 III

5 1 范围 半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法 本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号 (LVDS,Low Voltage Differential Signaling) 电路 ( 以下简称 器件 ) 电特性测试方法的基本原理 适用于低电压差分信号电路的测试 2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件, 仅所注日期的版本适用于本文件 凡是不注日期的引用文件, 其最新版本 ( 包括所有的修改单 ) 适用于本文件 GB/T 半导体器件集成电路第 2 部分 : 数字集成电路 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件 3.1 脉冲时滞 pulse skew 同一通道内, 输出由低电平到高电平的传输延迟时间与输出由高电平到低电平传输延迟时间的差值 3.2 通道间时滞 channel-to-channel skew 针对多通道器件, 不同通道间传输延迟时间的差值 3.3 眼图 eye diagram 用余辉的方式累计叠加显示采集到的串行信号的比特流的结果, 叠加后的图形为眼孔状 3.4 眼图高度 eye diagram height 眼图在垂直方向张开的高度 3.5 眼图宽度 eye diagram width 眼图在水平方向张开的宽度 1

6 3.6 抖动 jitter 信号在某个时刻, 相对于其理想时间位置上的短期偏离 3.7 确定性抖动 deterministic jitter 可重复的 可预测的时间偏移 3.8 随机抖动 random jitter 无界抖动源 非相关噪声源引起的时间偏移 3.9 总抖动 total jitter 随机抖动与确定性抖动之和 4 总则 4.1 测试环境要求 + 3 除本标准或适用的相关文件另有规定外, 电测试环境温度要求 :25-5 ; 环境气压 86kPa~106kPa 如果环境湿度对试验有影响, 应在相关文件中规定 4.2 测试注意事项测试期间, 应遵循以下注意事项 : a) 测试期间, 环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定 ; b) 测试期间, 施于的电源电压应在规定值的 ±1% 以内, 施于的其它电参量的准确度应符合器件相关文件的规定 ; c) 与测试系统连接或断开时, 不应超过器件的使用极限条件 ; d) 测试期间, 应避免因静电放电而引起器件损伤 ; e) 测试期间, 非被测输入端和输出端是否悬空应符合相关文件的规定 5 静态参数测试 5.1 单端数字接口参数测试 单端数字接口参数包括输入高电平电压 (V IH ) 输入低电平电压(V IL ) 输出高电平电压(V OH ) 输出低电平电压 (V OL ) 输入高电平电流(I IH ) 输入低电平电流(I IL ) 输出高电平电流(I OH ) 输出低电平电流 (I OL ) 输入钳位电压(V CL ) 输出低电平短路电流(I OSL ) 输出高电平短路电流 (I OSH ) 输出高阻态电流(I OZ ) 测试方法参照 GB/T 半导体器件集成电路第 2 部分 : 数字集成电路 的测试方法 5.2 输入高电平阈值电压 (V TH ) 2

7 5.2.1 目的 测试在输出电压为规定高电平值时, 需要施加在对应的 LVDS 输入端的最小差分电压的值 测试原理图 V TH 测试原理图见图 1 所示 + - V I+ V I- V ID V CM V V TH 输入网络 LVDS 输入端 其它输入端 + - V DD 相应输出端 其它输出端 图 1 输入高电平阈值电压 V TH 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在非被测输入端和输出端施加规定的条件 ; d) 在被测 LVDS 输入端施加规定的共模电压 V CM ; e) 调节被测 LVDS 输入端的差分电压 V ID, 使输出端电压 V O 为规定高电平电压时的最小差分电压即为输入高电平阈值电压 V TH ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输入端 注 1: 输入共模电压指正向 LVDS 输入端电压与反向 LVDS 输入端电压的平均值, 即 V CM =0.5(V I+ +V I- ); 注 2: 输入差分电压指正向 LVDS 输入端电压与反向 LVDS 输入端电压的差值, 即 V ID =V I+ -V I 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加的共模电压 (V CM ); d) 输入端施加的差分电压 (V ID ); e) 输出端电压或输出状态 V O V 5.3 输入低电平阈值电压 (V TL ) 目的 3

8 测试在输出电压为规定低电平值时, 需要施加在对应的 LVDS 输入端的最大差分电压的值 测试原理图 V TL 的测试电路图见图 2 所示 : + - V DD V I- V I+ V ID V CM V V TL 输入网络 LVDS 输入端 其它输入端 + - 相应输出端 其它输出端 图 2 输入低电平阈值电压 V TL 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在非被测输入端和输出端施加规定的条件 ; d) 在被测 LVDS 输入端施加规定的共模电压 V CM ; e) 调节被测 LVDS 输入端的差分电压 V ID, 使输出端电压 V O 为规定低电平电压时的最小差分电压即为输入低电平阈值电压 V TL ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输入端 注 1: 输入共模电压指正向 LVDS 输入端电压与反向 LVDS 输入端电压的平均值, 即 V CM =0.5(V I+ +V I- ); 注 2: 输入差分电压指正向 LVDS 输入端电压与反向 LVDS 输入端电压的差值, 即 V ID =V I- -V I 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加的共模电压 (V CM ); d) 输入端施加的差分电压 (V ID ); e) 输出端电压或输出状态 V O V 5.4 输入电流 (I IN ) 目的 测试在 LVDS 输入端施加规定的电压 V IN 条件时, 流入或流出被测 LVDS 输入端的电流 4

9 5.4.2 测试原理图 I IN 的测试电路图见图 3 所示 : V DD V IN A + - I IN LVDS 输入端 图 3 输入电流 I IN 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在非被测输入端和输出端施加规定的条件 ; d) 被测 LVDS 输入端电压 V IN 调到规定的电压极值 ; e) 在被测 LVDS 输入端测得输入电流 I IN ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输入端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) LVDS 输入端输入确定范围的电压 (V IN ) 5.5 电源关断输入漏电流 (I IN-OFF ) 目的 输入网络 测试在电源断电且 LVDS 输入端施加规定的电压 V IN 条件下, 流入或流出被测 LVDS 输入端的电流 测试原理图 其它输入端 输出端 I IN-OFF 测试原理图见图 4 所示 5

10 V DD =0V V IN A + - LVDS 输入端 I IN-OFF 输入网络 其它输入端 图 4 电源关断输入漏电流 I IN-OFF 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : b) 电源端接 0V 电压 ; c) 在非被测输入端和输出端施加规定的条件 ; d) 被测 LVDS 输入端电压 V IN 调到规定的电压极值 ; e) 在被测 LVDS 输入端测得输入电流 I IN-OFF ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输入端 规定条件相关文件应规定下列条件 : b) 电源端电压 0V; c) LVDS 输入端输入确定范围的电压 (V IN ) 5.6 输出 LVDS 高电压 (V OHL ) 目的测试在相应输入端施加规定的条件, 同时在 LVDS 差分输出端施加规定的负载时,LVDS 单端输出端为逻辑高值时的电压 测试原理图 V OHL 测试原理图见图 5 所示 输出端 6

11 V DD 测试程序 + - V IL 或 V IH 相应输入端 输入网络 测试期间, 应按以下程序进行测试 : 其它输入端 LVDS 输出端 + - 其它输出端 R L V VOHL 或 V OLL 图 5 输出 LVDS 高电压 V OHL 低电压 V OLL 测试原理图 c) 在相应输入端施加规定的条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的负载 ; d) 在被测 LVDS 单端输出端测得输出高电压 V OHL ; e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加的条件 ; d) LVDS 差分输出端施加的负载 5.7 输出 LVDS 低电压 (V OLL ) 目的 测试在相应输入端施加规定的条件, 同时在 LVDS 差分输出端施加规定的负载时,LVDS 单 端输出端为低值时的电压 测试原理图 V OLL 测试原理图见图 5 所示 测试程序 V V OLL 或 V OHL 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加规定的条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载 ; d) 在被测 LVDS 单端输出端测得输出低电压 V OLL ; 7

12 e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加的条件 ; d) LVDS 差分输出端施加的负载 5.8 共模输出电压 (V OS ) 目的测试在相应输入端施加规定的条件, 同时在 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载时, LVDS 输出的共模电压的值 测试原理图 V OS 的测试电路图见图 5 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加规定的条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载 ; d) 在被测 LVDS 单端输出端测得输出高电压 V OHL 和输出低电压 V OLL ; e) 根据式 (1) 得到共模输出电压 V OS ; V OS =(V OHL +V OLL )/2 (1) 式中 : V OS 共模输出电压 ; V OHL 输出 LVDS 高电压 ; V OLL 输出 LVDS 低电压 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加的条件 ; d) LVDS 差分输出端施加的电阻负载 5.9 互补态共模输出电压变化 ( V OS ) 目的 8

13 测试当 LVDS 差分输出端分别处于正 (+) 端电压 V + 大于负 (-) 端电压 V - 和正 (+) 端电压 V + 小于负 (-) 端电压 V - 两个互补状态时的共模输出电压 V OS1 和 V OS2 的差值 测试原理图 V OS 的测试电路图见图 5 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加互补输入条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载 ; d) 按照 5.8 规定的测试方法, 分别测试互补输入状态的共模输出电压 V OS1 和 V OS2, 根据式 (2) 计算所得即为 V OS ; V OS = V OS1 -V OS2 (2) 式中 : V OS 互补态共模输出电压变化 ; V OS1 V OS2 输入端分别施加互补条件时共模输出电压的值 e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加互补输入条件 ; d) LVDS 差分输出端施加的电阻负载 5.10 差分输出电压 (V OD ) 目的测试在输入端施加规定的条件, 同时在 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载时,LVDS 输出端电压差值 测试原理图 V OD 的测试电路图见图 5 所示 测试程序 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加规定的条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载 ; d) 在被测 LVDS 单端输出端测得输出高电压 V OHL 和输出低电压 V OLL ; e) 根据式 (3) 算出输出高电压 V OHL 和输出低电压 V OLL 的差值, 即为差分输出电压 V OD ; V OD = V OHL -V OLL (3) 9

14 式中 : V OD 差分输出电压 ; V OHL 输出 LVDS 高电压 ; V OLL 输出 LVDS 低电压 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加的条件 ; d) LVDS 差分输出端施加的电阻负载 5.11 互补态差分输出电压的变化 ( V OD ) 目的测试在 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载, 分别在相应输入端施加互补输入条件时, LVDS 输出端的在两个互补态下的差分输出电压的差值 测试原理图 V OD 的测试电路图见图 5 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加互补输入条件, 被测 LVDS 差分输出端施加规定的电阻负载 ; d) 按照 5.10 规定的测试方法分别测试互补差分输出电压 V OD1 和 V OD2, 根据式 (4) 计算即为 V OD ;; V OD = V OD1 -V OD2 (4) 式中 : V OD 互补态共模输出电压变化 ; V OD1 V OD2 输入端分别施加互补条件时差分输出电压的值 e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 相应输入端施加互补输入差分电压 ; d) LVDS 差分输出端施加的电阻负载 5.12 LVDS 输出短路电流 (I OSL ) 目的 10

15 测试在 LVDS 输出为高电压时端口对地短路的电流 测试原理图 I OSL 测试原理图见图 6 所示 + - V I 相应输入端 输入网络 其它输入端 LVDS 输出端 图 6 LVDS 输出短路电流 I OSL 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 在相应输入端施加规定的条件, 使被测 LVDS 输出状态为高, 被测 LVDS 输出端为高时对地短路, 其它非被测输出端开路 ; d) 在被测输出端测得 I OSL ; e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加的条件 5.13 电源关断输出漏电流 (I O-OFF ) 目的 测试在电源断电时,LVDS 输出端施加规定的高电压或低电压时流入或流出器件的电流 V DD 其它输出端 A I OSL 测试原理图 I O-OFF 测试原理图见图 7 所示 11

16 V DD =0V V I 相应输入端 测试程序 + - 输入网络 测试期间, 应按以下程序进行测试 : 其它输入端 LVDS 输出端 其它输出端 图 7 电源关断输出漏电流电流 I O-OFF 测试原理图 b) 电源端接 0V 电压 ; c) 在非被测输入端和输出端施加规定的条件 ; d) 被测 LVDS 输出端电压 V O 调到规定的电压极值 ; e) 在被测 LVDS 输出端测得输出漏电流 I O-OFF ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : b) 电源端电压 0V; c) LVDS 输出端施加规定的高电压或低电压 5.14 LVDS 输出高阻态电流 (I OZL ) 目的 测试在 LVDS 输出为三态时, 流入或流出输出端的电流 测试原理图 I OZL 测试原理图见图 8 所示 A V O I O-OFF 12

17 V DD V I 三态控制端 测试程序 + - 输入网络 测试期间, 应按以下程序进行测试 : 其它输入端 LVDS 输出端 其它输出端 图 8 LVDS 输出高阻态电流 I OZL 测试原理图 a) 规定的环境条件下, 将接入测试系统中 ; c) 在三态控制端施加规定的电压使输出为高阻态, 在被测 LVDS 输出端施加规定的高电平电压或 低电平电压, 其它输入端和非被测输出端按照相关文件的规定 ; d) 在被测 LVDS 输出端测得 I OZL ; e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 三态控制端输入的电压 (V I ); d) LVDS 输出端施加的高电压或低电压 (V O ) 5.15 内置差分输入电阻 (R IT ) 目的 测试器件的差分输入两端内置输入阻抗大小 测试原理图 R IT 测试原理图见图 9 所示 A V O I OZL 13

18 测试程序 阻抗测试系统 测试期间, 应按以下程序进行测试 : 输入端 图 9 内置差分输入电阻 R IT 测试原理图 b) 器件处于未施加电源和信号激励状态 ; c) 非被测端口均处于开路状态 ; d) 多通道器件可依次按照 b)~c) 的顺序, 测试其差分输入端, 读取电阻测试值 规定条件 相关文件应规定下列条件 : b) 电源电压 V DD =0V; c) 器件处于未施加电源和信号激励状态 5.16 内置差分输出电阻 (R OT ) 目的 测试器件差分输出两端内置输入阻抗大小 测试原理图 R OT 测试原理图见图 10 所示 输出端 阻抗测试系统 测试程序 图 10 内置差分输出电阻 R OT 测试原理图 14

19 测试期间, 应按以下程序进行测试 : b) 器件处于未施加电源和信号激励状态 ; c) 非被测端口均处于开路状态 ; d) 多通道器件可依次按照 b)~c) 的顺序, 测试其差分输出端, 读取电阻测试值 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 器件处于未施加电源和信号激励状态 5.17 静态电源电流 (I DD ) 目的 测试器件在静态状态下流过所有电源端的电流之和 测试原理图 I DD 测试原理图见图 11 所示 测试程序 静态输入条件 I DD1 输入端 A V DD1 测试期间, 应按以下程序进行测试 : A V DDn 图 11 静态电源电流 I DD 测试原理图 c) 在输入端施加规定的条件, 在输出端施加规定的负载 ; d) 分别测试各电源端电流 I DD1 I DD2 I DDn, 并按式 (5) 计算得出 I DD I DD1 +I DD2 + +I DDn =I DD (5) 式中 : I DD 静态电源电流 ; I DDn 输出端 输出负载网络 15

20 I DD1 I DD2 I DDn 分别流过各个电源端的静态电源电流 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加的条件 ; d) 输出端施加的负载 5.18 关断电源电流 (I DDZ ) 目的 测试器件处于低功耗关断模式时, 流过各个电源端的电流之和 测试原理图 I DDZ 测试原理图见图 12 所示 关断态输入条件 I DDZ1 图 12 关断态电源电流 I DDZ 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : 输入端 A V DD1 c) 在输入端施加规定的条件, 使器件处于低功耗关断模式, 在输出端施加规定的负载 ; d) 分别测试各电源端电流 I DDZ1 I DDZ2 I DDZn, 并按式 (6) 计算得出 I DDZ I DDZ1 +I DDZ2 + +I DDZn =I DDZ (6) 式中 : I DDZ 关断电源电流 ; I DDZ1 I DDZ2 I DDZn 分别流过各个电源端的关断电源电流 A V DDn I DDZn 输出端 输出负载网络 规定条件 16

21 相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加的条件, 使器件处于低功耗关断模式 ; d) 输出端施加的负载 6 动态参数测试 6.1 输入电容 (C I ) 和输出电容 (C O ) 目的测试 LVDS 输入端或输出端相对于地端的电容值 测试原理图 C I 的测试原理图见图 13 所示 C O 的测试原理图见图 14 所示 容抗测试系统 输入端 图 13 输入电容 C I 测试原理图 输出端 图 14 输出电容 C O 测试原理图 容抗测试系统 C I 测试程序相关文件应规定下列条件 : a) 在规定的环境条件下, 将电容电桥调至平衡, 然后将接入测试系统中 ; b) 被测输入端施加规定的电压 ; 17

22 c) 被测输入端施加规定的频率 ; d) 将电容电桥调至平衡, 即测得输入电容 C I ; e) 多通道器件可依次按照 c)~d) 的顺序, 测试对应各 LVDS 输入端 C O 测试程序 C O 测试程序与 C I 测试程序基本相同 规定条件相关文件应规定下列条件 : b) 器件处于未施加电源和信号激励状态 6.2 动态电源电流 (I DDA ) 目的 测试器件工作在规定的交流状态时, 流过各个电源端的电流之和 测试原理图 I DDA 测试原理图见图 15 所示 测试程序 交流输入条件 I DDA1 输入端 A V DD1 测试期间, 应按以下程序进行测试 : A V DDn 图 15 动态电源电流 I DDA 测试原理图 c) 在输入端施加规定的条件使器件工作在规定的交流状态, 在输出端施加规定的负载 ; d) 分别测试各电源端电流 I DDA1 I DDA2 I DDAn, 并按式 (7) 计算得出 I DDA I DDA1 +I DDA2 + +I DDAn =I DDA (7) 式中 : I DDA 动态电源电流 ; I DDAn 输出端 输出负载网络 18

23 I DDA1 I DDA2 I DDAn 分别流过各个电源端的动态电源电流 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 输入端施加规定的交流工作条件 ; d) 输出端施加的负载 6.3 最大工作频率 (f MAX ) 目的测试器件正常工作时在 LVDS 输入端的最大输入频率 f MAX 测试原理图 f MAX 测试原理图见图 16 所示 G 输入条件 其它输入 频率测试仪 V DD 其它输出 信号检测仪 图 16 最大工作频率 f MAX 和最小工作频率 f MIN 测试原理图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非时钟输入端施加规定的信号, 输出端施加规定的负载 ; d) 在时钟输入端施加规定的时钟信号 ; e) 调节输入信号工作频率, 测试使器件正常工作的最大频率 f MAX 输出网络 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; 19

24 d) 输出端施加的负载 6.4 最小工作频率 (f MIN ) 目的 测试器件正常工作时在 LVDS 输入端的最小输入频率 f MIN 测试原理图 f MIN 测试原理图见图 16 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非时钟输入端施加规定的信号, 输出端施加规定的负载 ; d) 在时钟输入端施加规定格式的时钟信号 ; e) 调节输入信号工作频率, 测试使器件正常工作的最小频率 f MIN 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; d) 输出端施加的负载 6.5 最大数据率 (DR MAX ) 目的测试在输入端施加规定的数据信号, 输出端施加规定的负载, 数据正常传输时的最大数据率 测试原理图 DR MAX 测试原理图见图 16 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非时钟输入端施加规定的信号, 输出端施加规定的负载 ; d) 在数据输入端施加规定的数据信号 ; e) 调节输入信号工作频率, 使数据正常传输 ; f) 上述输入信号工作的最大频率值即为 DR MAX 规定条件 相关文件应规定下列条件 : 20

25 c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; d) 输入电压参考转换点 ; e) 输出端施加的负载 6.6 输出由低电平到高电平传输延迟时间 (t PLH ) 目的 测试从输入电压参考转换点到 LVDS 输出由低电平到高电平转换时的参考转换点的时间间隔 测试原理图 t PLH 测试原理图见图 17 所示 t PLH 的示意图见图 18 所示 G IN VOH 输入网络 其它输入 VOL V DD 图 17 t PLH 和 t PHL 测试原理图 50% 50% t PLH 其它输出 双踪示波器 t PHL 输出网络 图 18 t PLH 和 t PHL 示意图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : 21

26 c) 非被测输入端施加规定的电压, 输出端施加规定的负载 ; d) 在测试输入端施加规定格式的信号 ; e) 依据图 18, 完成 t PLH 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; d) 输入电压参考转换点 ; e) 输出端施加的负载 6.7 输出由高电平到低电平传输延迟时间 (t PHL ) 目的测试从输入电压参考转换点到 LVDS 输出由高电平到低电平转换时的参考转换点的时间间隔 测试原理图 t PHL 测试原理图见图 17 所示 t PHL 的示意图见图 18 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压, 输出端施加规定的负载 ; d) 在测试输入端施加规定格式的电压信号 ; e) 依据图 18, 完成 t PHL 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输入 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; d) 输入电压参考转换点 ; e) 输出端施加的负载 ; f) 输出电压参考转换点 6.8 输出由高阻态到高电平传输延迟时间 (t PZH ) 目的 22

27 测试在三态控制端施加规定的控制电压时,LVDS 输出由高阻态到高电压的边沿和对应的输入控制电压边沿上规定的参考电平间的时间间隔 测试原理图 t PZH 测试原理图见图 19 所示 G t PZH 示意图见图 20 所示 VDD 0V V OH V OL D 0± 输入网络 其它输入 VDD 图 19 t PZH t PZL t PHZ 和 t PLZ 测试原理图 图 20 t PZH t PZL t PHZ 和 t PLZ 示意图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : 50% t PHZ t PLZ 50% 50% t PZH t PZL 其它输出 双踪示波器 c) 三态控制端施加规定的脉冲信号, 其余输入端施加规定的电平 ; d) 输出端施加规定的输出负载 ; e) 依据图 20, 完成 t PZH 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各三态控制 输出端 50% 50% 输出网络 VREF 规定条件 相关文件应规定下列条件 : 23

28 c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 ; e) 参考电平 6.9 输出由高阻态到低电平传输延迟时间 (t PZL ) 目的测试在三态控制端施加规定的控制电压时,LVDS 输出由高阻态到低电压的边沿和对应的输入控制电压边沿上规定的参考电平间的时间间隔 测试原理图 t PZL 测试原理图见图 19 所示 t PZL 示意图见图 20 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 三态控制端施加规定的脉冲信号, 其余输入端施加规定的电平 ; d) 输出端施加规定的输出负载 ; e) 依据图 20, 完成 t PZL 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各三态控制 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 ; e) 参考电平 6.10 输出由高电平到高阻态传输延迟时间 (t PHZ ) 目的 测试在三态控制端施加规定的控制电压时,LVDS 输出由高电压的边沿到高阻态和对应的输入控制 电压边沿上规定的参考电平间的时间间隔 测试原理图 t PHZ 测试原理图见图 19 所示 t PHZ 示意图见图 20 所示 测试程序 24

29 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 三态控制端施加规定的脉冲信号, 其余输入端施加规定的电平 ; d) 输出端施加规定的输出负载 ; e) 依据图 20, 完成 t PHZ 测试 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各三态控制 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 ; 6.11 输出由低电平到高阻态传输延迟时间 (t PLZ ) 目的测试在三态控制端施加规定的控制电压时,LVDS 输出由低电压的边沿到高阻态和对应的输入控制电压边沿上规定的参考电平间的时间间隔 测试原理图 t PLZ 测试原理图见图 19 所示 t PLZ 示意图见图 20 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 三态控制端施加规定的脉冲信号, 其余输入端施加规定的电平 ; d) 被测输出端施加规定的输出负载 ; 其余输出端开路 e) 依据图 20, 完成 t PLZ 测试 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各三态控制 输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 ; e) 参考电平 6.12 输出由低电平到高电平转换时间 (t TLH ) 25

30 目的 测试 LVDS 输出由低电压参考点到高电压参考点的时间间隔 测试原理图 t TLH 测试原理图见图 21 所示 G t TLH 示意图见图 22 所示 20% 输入网络 其它输入 VDD 图 21 t TLH 和 t THL 测试原理图 80% 80% 图 22 t TLH 和 t THL 示意图 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; tlht thlt 其它输出 双踪示波器 d) 在相应输入端施加规定的电压信号, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 依据图 22, 完成 t TLH 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 20% 输出网络 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; 26

31 d) 输出端施加的负载 ; e) 输出电压高 低参考转换点 6.13 输出由高电平到低电平转换时间 (t THL ) 目的 测试 LVDS 输出由高电压参考点到低电压参考点的时间间隔 测试原理图 t THL 测试原理图见图 21 所示 t THL 示意图见图 22 所示 测试程序 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定的电压信号, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 依据图 22, 完成 t THL 测试 ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 频率 转换时间 信号格式 ; d) 输出端施加的负载 ; e) 输出电压高 低参考转换点 6.14 脉冲时滞 (t SKP ) 目的测试输出由高电平到低电平传输延迟时间和输出由低电平到高电平传输延迟时间差值 测试原理图 t PHL t PLH 测试原理图见图 17 所示 测试程序 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压, 输出端施加规定的负载 ; d) 在测试输入端施加规定的信号 ; e) 分别按 6.6 和 6.7 测试 t PLH 和 t PHL, 根据式 (8) 计算获得 t SKP ; 27

32 t SKP = t PHL -t PLH (8) 式中 : t SKP 脉冲时滞 ; t PHL 输出由高电平到低电平传输延迟时间 ; t PLH 输出由低电平到高电平传输延迟时间 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 6.15 通道间时滞 (t SKO ) 目的测试多通道器件的不同通道间传输延迟时间差 测试原理图 t PHL t PLH 测试原理图见图 17 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压, 输出端施加规定的负载 ; d) 在测试输入端施加规定的信号 ; e) 分别按 6.6 和 6.7 测试 t PLH 和 t PHL, 根据式 (9) 或式 (10) 计算获得 t SKO ; t SKO = t PHLn -t PHLm (9) t SKO = t PLHn -t PLHm (10) 式中 : t SKO 通道间时滞 ; t PHL 输出由高电平到低电平传输延迟时间 ; t PLH 输出由低电平到高电平传输延迟时间 ; m 第 m 通道 ; n 第 n 通道 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : 28

33 c) 输入脉冲电压的幅度 频率 宽度 上升时间 下降时间 ; d) 输出端施加的负载 6.16 眼图高度 (e H ) 目的在被测件输入端施加信号以保证其差分信号输出为 PRBS( 伪随机比特流 ) 码型或被测件本身正常工作输出码型, 并测量差分信号眼图, 测量其眼高幅度得到的值即为 e H 测试原理图 e H 测试原理图见图 23 所示 G 输入网络 其它输入 VDD 其它输出 示波器 图 23 眼图高度 e H 和眼图宽度 e W 测试原理图 测试程序 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定的数据率码型数据, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 测量差分信号眼图, 评估在相应眼图模板下, 测试输出端眼图高度 e w ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 数据率 转换时间 信号码型 ; d) 输出端施加的负载 输出网络 6.17 眼图宽度 (e W ) 29

34 目的在被测件输入端施加信号以保证其差分信号输出为 PRBS( 伪随机比特流 ) 码型或被测件本身正常工作输出码型, 并测量差分信号眼图, 测量其眼图宽度得到的值即为 e W 测试原理图 e W 测试原理图见图 23 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定的数据率码型数据, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 测量差分信号眼图, 评估在相应眼图模板下, 测试输出端眼图宽度 e w ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 数据率 转换时间 信号码型 ; d) 输出端施加的负载 6.18 确定性抖动 (D j ) 目的测试被测件器件输入端施加规定信号, 使输出指定测试码型, 测量其可重复的 可预测的定时偏移 测试原理图 D j 测试原理图见图 23 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定数据率的码型, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 根据规定的数据率和系统时钟恢复方式, 进行抖动分解, 测试输出端数据确定性抖动 D j ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件 相关文件应规定下列条件 : 30

35 c) 输入信号的幅度 数据率 转换时间 信号码型 ; d) 输出端施加的负载 6.19 随机抖动 (R j ) 目的在被测件器件输入端施加规定信号, 测量输出指定测试码型的不能预测的定时噪声 测试原理图 R j 测试原理图见图 23 所示 测试程序测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定的数据率的码型数据, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 根据规定的数据率和系统时钟恢复方式, 进行抖动分解, 测试输出端数据随机抖动 R j ; f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 数据率 转换时间 信号码型 ; d) 输出端施加的负载 6.20 总抖动 (J t ) 目的测试确定性抖动与随机抖动之和 测试原理图 J t 测试原理图见图 23 所示 测试程序 测试期间, 应按以下程序进行测试 : c) 非被测输入端施加规定的电压 ; d) 在相应输入端施加规定的数据率的码型数据, 被测试输出端施加规定的负载 ; e) 根据规定的数据率和系统时钟恢复方式, 进行抖动分解, 根据式 (10) 测试输出端总抖动 J t ; 31

36 J t =D j +R j (10) 式中 : J t 总抖动 ; D j 确定性抖动 ; R j 随机抖动 f) 多通道器件可依次按照 c)~e) 的顺序, 测试对应各输出端 规定条件相关文件应规定下列条件 : c) 输入信号的幅度 数据率 转换时间 信号码型 ; d) 输出端施加的负载 32

37 AA GB/T XXXXX XXXX A.1 要求说明 附录 A ( 资料性附录 ) 眼图测试对仪器的要求说明 眼图测试, 对示波器的带宽和采样率有如下要求 : a) 已知器件最快上升时间 t R ; b) 计算信号带宽 BW signal ( 或信号最高频率分量 F max ): BW signal ( 或 F max ) = 0.4/ t r (20%-80% 定义为上升时间 ); BW signal ( 或 F max ) = 0.5/ t r (10%-90% 定义为上升时间 ); c) 计算所需要的示波器带宽 BW scope : BW scope = 2 BW signal ( 或 2 F max ) ( 高斯频响示波器 ); BW scope = 1.4 BW signal ( 或 1.4 F max ) (Flat 频响示波器 ); d) 计算需要的示波器采样率 SR scope : A.2 示例说明 SR scope = 4 BW scope ( 高斯频响示波器 ); SR scope = 2.5 BW scope (Flat 频响示波器 ) 以下是 SATA2 信号测试对仪器要求的示例 : a) SATA2 的信号速率为 3Gbps; b) 上升时间最快为 67ps; c) 信号带宽为 :0.4/67ps=5.97GHz; d) 需要的示波器带宽 : BW scope = =11.9GHz ( 高斯频响示波器 ); BW scope = = 8.4GHz (Flat 频响示波器 ); e) 需要的实时采样率 : SR scope =4 11.9= 47.6GSa/s ( 高斯频响示波器 ); SR scope = = 21GSa/s (Flat 频响示波器 ) 33

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