简介作为下一代在线测试系统 (ICT), 是德科技 Medalist i3070 提供了无可比拟的测试覆盖范围和强健性, 投资回报显著我们的解决方案可以使产出提高 20%, 同时提高覆盖范围, 它进一步扩大了我们屡获大奖的非向量测试技术, 提高了世界上最公认的在线测试平台的性能是德科技 M

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2 简介作为下一代在线测试系统 (ICT), 是德科技 Medalist i3070 提供了无可比拟的测试覆盖范围和强健性, 投资回报显著我们的解决方案可以使产出提高 20%, 同时提高覆盖范围, 它进一步扩大了我们屡获大奖的非向量测试技术, 提高了世界上最公认的在线测试平台的性能是德科技 Medalist 3070 是世界上最灵活最稳定的在线测试系统是德科技 Medalist i5000 是世界上学习速度最快最容易部署的 ICT 系统现在, 通过是德科技 Medalist i3070 ICT 系统, 您可以同时获得这两个系统的最佳特点您已经熟悉的倍受信赖功能强健的系统, 现在变得更加简便易用 Medalist i3070 把一流的是德科技 Medalist 3070 的所有功能与 Medalist i5000 的先进架构和简便易用性结合在一起它提供了直观的点击界面自动测试调试和优化工具及一系列其它功能, 加快了测试编程和部署的每个环节

03 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册 Medalist i3070 加快成功步伐对世界各地的电子制造商来说,Medalist i3070 为把在线测试能力带入生产线中提供了最快速最简便的方式操作简单, 部署速度更快菜单驱动的图形用户界面 (GUI ) 可以简便地使用菜单获得 Medalist i3070 的强大处理能力

3 03 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册 Medalist i3070 加快成功步伐对世界各地的电子制造商来说,Medalist i3070 为把在线测试能力带入生产线中提供了最快速最简便的方式操作简单, 部署速度更快菜单驱动的图形用户界面 (GUI ) 可以简便地使用菜单获得 Medalist i3070 的强大处理能力一套自动工具则进一步加快了学习周期, 可以更快地开始执行测试吞吐量高, 回报周期更快与传统的是德科技 Medalist 3070 相比,Medalist i3070 的模拟测试吞吐量提高了 10 50% 由于经济的价位,Medalist i3070 可以大大减少资本开支, 同时更快地获得测试投资回报灵活的架构, 配置速度快 Medalist i3070 拥有单模块双模块和四模块配置, 可以根据具体生产和预算要求配置测试系统兼容的平台, 演进速度更快现有的 3070 和 i5000 夹具和程序不需作出任何变动, 就可以在 Medalist i3070 上运行 Medalist i3070 全面利用您在测试中的现有投资, 您不用损失时间和金钱, 就可以实现演进是德科技 Medalist i3070 ICT 系统消除了在线测试的复杂性, 它提供了菜单驱动的编程功能有益的自动工具及兼容的平台架构, 可以简便地实现演进, 提供业内领先的程序移植能力经济的价格, 简便易用的界面, 使 Medalist i3070 的购买和使用一样简便

04 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册主要特点从按键菜单驱动的界面到灵活的架构, 是德科技 Medalist i3070 的每个方面都是为加快印刷电路板和组件投产和出产速度而设计的它提供了强大的资源, 在预算不断缩减资源稀缺时间表紧张的时代中, 帮助电子制造商创造经济效益简便易用的 GUI 即使 ICT

0 是一套非向量测试解决方案, 其中包括新的网络参数测量技术及原来的 Medalist VTEP 技术和屡获大奖的 Medalist ivtep VTEP v2.

4 04 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册主要特点从按键菜单驱动的界面到灵活的架构, 是德科技 Medalist i3070 的每个方面都是为加快印刷电路板和组件投产和出产速度而设计的它提供了强大的资源, 在预算不断缩减资源稀缺时间表紧张的时代中, 帮助电子制造商创造经济效益简便易用的 GUI 即使 ICT 经验有限的人也可以不经培训或只经少量培训, 就开始使用 Medalist i3070 它使用鼠标而不是键盘进行编程, 因此不需输入命令或处理命令语法或拼写 Medalist i3070 消除了测试系统与操作人员之间的障碍, 可以迅速完成优质工作, 帮助工程师用非常短的学习周期, 实现很高的生产效率 VTEP v2.0 1 Medalist VTEP v2.0 是一套非向量测试解决方案, 其中包括新的网络参数测量技术及原来的 Medalist VTEP 技术和屡获大奖的 Medalist ivtep VTEP v2.0 中融汇了所有这些解决方案, 把最优 ivtep 所获奖项秀的非向量测试放到您的手中网络参数测量技术是业内率先提供的技术, 可以检测电源针脚和接地针脚上的缺陷,iVTEP 则集中测量信号针脚的超低值 (< 5fF) 此外, 采用原来的 Medalist VTEP 作为内核, 意味着测量灵敏度提高了 4 倍, 标准偏差改善了 5 倍随着技术进步封装缩小和信号速度加快,VTEP v2.0 对迎接当前和未来的挑战必不可少 1. 非向量测量技术不需使用码型 ( 矢量 ), 也不需对电路板通电, 即可执行测试, 保证快速可靠的测量结果 AutoDebug( 自动调试 ) 通过 Medalist i3070, 用户只需按一个按钮, 就可以调试未通电的无源模拟器件, 即使 ICT 经验有限的人也可以在几个小时内执行完整的模拟测试调试 AutoDebug ( 自动调试 ) 微调测试, 确保在制电路板可靠地通过测试它运行选定测试, 捕获测量数据, 评估数据, 增加或删除测量选项, 汇编测试可以由您设置规则, 而由 AutoDebug 执行测试 AutoOptimizer( 自动优化程序 ) 通过按一个按钮, 可以优化 Medalist i3070 测试, 把每项测试的测试时间降低 10 50% AutoOptimizer 检查测试是否稳定, 清除代码中存在的冲突, 实现干净的平滑运行的测试清除生产运行过程中改动的程序具有重要意义, 它可以再次快速干净可靠地运行测试

05 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册每针脚测试仪架构 Medalist i3070 共享通道的或 1:1 的针脚卡在配置 1:1 的针脚卡时, Medalist i3070 的新型系统架构完整的每针脚编程能力, 简化了编程和夹具开发工作跨平台兼容能力 Medalist

30PC 及以后版本 ) 或 Medalist i5000 上开发的程序不需改动, 就可以在 Medalist i3070 上运行其它程序可能要求使用 Medalist i3070 的内置程序转换工具进行少量重新汇编夹具不需重新连线, 就可以用于 Medalist i3070 Medalist i3070

5 05 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册每针脚测试仪架构 Medalist i3070 共享通道的或 1:1 的针脚卡在配置 1:1 的针脚卡时, Medalist i3070 的新型系统架构完整的每针脚编程能力, 简化了编程和夹具开发工作跨平台兼容能力 Medalist i3070 向上和向下兼容其它是德科技 ICT 系统在 Keysight 3070 (5.30PC 及以后版本 ) 或 Medalist i5000 上开发的程序不需改动, 就可以在 Medalist i3070 上运行其它程序可能要求使用 Medalist i3070 的内置程序转换工具进行少量重新汇编夹具不需重新连线, 就可以用于 Medalist i3070 Medalist i3070 这么高的兼容能力为未来技术敞开了大门, 同时可以保护您在测试中所作的投资可移植可重复稳定的测试可以在一个地方编写 Medalist i3070 测试, 然后转移到其它地点线路或是德科技系统, 而对测试稳定性或测量精度没有任何影响通过 Medalist i3070, 您获得了一个快速的低成本方式, 可以有效利用编程投资, 降低编程成本进入成本低通过利用前几代是德科技 ICT 系统中的技术,Medalist i3070 传承了最优秀的属性, 同时降低了平台成本您可以获得所有处理能力和易用性, 而成本要低于是德科技的前几代系统

06 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册是德科技优势 : 率先解决问题是德科技持有 200 多项印刷电路板测试和检测 ICT 专利, 一直率先推出最新的突破性技术, 解决测试中的实际问题从基本模拟测试到高级数字测试, 是德科技为满足每项需求都提供了 ICT 解决方案是德科技部分创新技术如下 : 1978 6 线测量 1989 短线夹具 1992

ivtep, 新的网络参数测量功能, 为连接器上的电源针脚和接地针脚提供的世界上第一个测试方法, 改善了测量精度和稳定性的短线夹具解决方案, 先进的每针脚测试仪架构等等, 可以迎接当前电子制造商面临的日常测试挑战 s Test Time (Seconds) 8.000 7.000 6.000 5.000 4.000 3.000 2.000 1.000 0.000 7.199 65% 2.

6 06 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册是德科技优势 : 率先解决问题是德科技持有 200 多项印刷电路板测试和检测 ICT 专利, 一直率先推出最新的突破性技术, 解决测试中的实际问题从基本模拟测试到高级数字测试, 是德科技为满足每项需求都提供了 ICT 解决方案是德科技部分创新技术如下 : 线测量 1989 短线夹具 1992 吞吐量倍乘器 1992 面板测试 Testjet 1995 极性检查 2001 Automatic Silicon Nails VTEP ivtep 2006 焊珠探测技术 2007 网络参数测量是德科技 ICT 系统包括为电路板供电的内置电源及完善的模拟和数字在线编程工具是德科技一直在不断创新, 如提高了拥挤的电路板上覆盖范围的屡获大奖的 ivtep, 新的网络参数测量功能, 为连接器上的电源针脚和接地针脚提供的世界上第一个测试方法, 改善了测量精度和稳定性的短线夹具解决方案, 先进的每针脚测试仪架构等等, 可以迎接当前电子制造商面临的日常测试挑战 s Test Time (Seconds) % Analog In-Circuit Test Times 77% % Original Test Time AutoOptimised Test Time % Time savings over original test time % 0.39 Total Analog Test Time Capacitors Resistors Other Test Sections

07 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册是德科技客户会逐年看到效果几乎每个制造商的生产车间中都能看到是德科技测试系统的身影倍受信赖功能强健的系统是制造商成功生产优质可靠产品的基石先进的夹具解决方案先进的测试技术更高的测试效率是德科技短线夹具技术提高了信号完整性和测试稳定性, 可以用更少的调试更简便地复现信号, 提高了 DUT 接口的精度

7 07 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册是德科技客户会逐年看到效果几乎每个制造商的生产车间中都能看到是德科技测试系统的身影倍受信赖功能强健的系统是制造商成功生产优质可靠产品的基石先进的夹具解决方案先进的测试技术更高的测试效率是德科技短线夹具技术提高了信号完整性和测试稳定性, 可以用更少的调试更简便地复现信号, 提高了 DUT 接口的精度是德科技 ICT 系统长线夹具, 但它更擅长短线夹具短线夹具已经取得了巨大的成绩, 每个是德科技 ICT 系统都配备了短线夹具是德科技一流的智能程序处理器 (IPG ) 可以建立每项测试的模型, 确定最优测试参数, 实现最大的测试可靠性和稳定性这大大降低了调试要求的测试数量测试优化技术提高了测试效率, 可以在更短的时间内执行强健的测试吞吐量倍乘器技术通过在一个面板中同时测试多块电路板, 提高了生产线吞吐量在基于矢量的数字测试及通电和未通电模拟测试方面, 是德科技一直提供业内领先的解决方案作为 TestJet 和最新的 VTEP v2.0 测试套件的发明者, 是德科技还推进了非向量测试解决方案的开发步伐焊珠探测技术随着当前 PCBA 变得越来越密, 获得测试接入所需的空间成为一个重大挑战同时, 由于信号高速传播的现象日益普及, 传统测试点可能会严重损害信号完整性是德科技 Medalist 焊珠探测技术是一种简单而又经过验证的测试接触方式, 同时克服了上述挑战不仅如此, 其独立于布局的特点还可以轻松路由轨迹加上是德科技多年的研究经验及 16 项专利和正在申请专利的多项应用, Medalist 焊珠探测技术可以随时用于大批量制造通过 i3070 电路板弯曲控制算法和探针选择算法, 您可以获得保证,i3070 能够为您带来最优秀的技术如需更多信息, 请访问 : beadprobe

8 08 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册跨平台兼容能力指南 Medalist i3070 能够轻松地使用相同配置在不同系统之间移植, 并高度兼容传统 3070 和 i5000 系统只有在拥有不同针脚卡配置的系统之间移值程序时, 兼容能力才会受到限制

9 09 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册技术数据 1:1 的针脚卡带有兼容通道的针脚卡节点最大数量驱动源 / 接收源复用比每针脚测试仪 1:1 9:2 复用率逻辑电平 ( 按通道 ) 按针脚编程按通道编程逻辑门限 ( 按通道 ) 单门限编程双门限编程测试速度 6MPs 6MPs, 12MPs, 20MPs 电路分析自动 (IPG) 操作系统 Windows XP Professional DUT 电源最多 24 个程控电源频率测量 60 MHz 模拟测试 Yes 基于矢量的编程 VCL 和 PCF 非向量测试 VTEP v2.0 高压测试 100V 低压测试 0.8V 安全保护后驱电流 750 ma 元件级问题测试报告边界扫描测试是德科技边界扫描, ScanWorks Flash 系统内部编程 CPLD/FPGA 系统内部编程智能良品率增强测试 NAND 树形程序发生器基于语言极性检查软件 SPC 质量工具按键 Q-Stats 自动测试维修工具 Medalist 报告工具采用模块化结构, 实现灵活性 / 扩充能力 1 4 个模块 Dual-Well 和吞吐量倍乘器的夹具类型短线, 无线, 长线

10 10 Keysight Medalist i3070 在线测试平台 - 手册 mykeysight 个性化视图为您提供最适合自己的信息! PCI 扩展仪器 (PXI) 模块化仪器提供坚固耐用基于 PC 的高性能测量与自动化系统是德渠道合作伙伴黄金搭档 : 是德的专业测量技术和丰富产品与渠道合作伙伴的便捷供货渠道完美结合是德科技为需要在短期内使用是德科技 Medalist i3070 的制造商提供了灵活的新型资产管理方案如需更多信息, 请访问网址 : 相关网上资源如需与是德科技 Medalist i3070 在线测试平台有关的更多信息, 请访问 : 如欲获得是德科技的产品应用和服务信息, 请与是德科技联系如欲获得完整的产品列表, 请访问 : 请通过 Internet 电话传真得到测试和测量帮助热线电话 : 热线传真 : 是德科技 ( 中国 ) 有限公司地址 : 北京市朝阳区望京北路 3 号电话 : (010) 传真 : (010) 邮编 : 上海分公司地址 : 上海市虹口区四川北路 1350 号中信泰富申虹广场 5 楼楼电话 : (021) 传真 : (021) 邮编 : 广州分公司地址 : 广州市天河北路 233 号中信广场 66 层室电话 : (020) 传真 : (020) 邮编 : 成都分公司地址 : 成都高新区南部园区天府四街 116 号电话 : (028) 传真 : (028) 邮编 : 深圳分公司地址 : 深圳市福田中心区福华一路六号免税商务大厦 3 楼电话 : (0755) 传真 : (0755) 邮编 : 西安分公司地址 : 西安市碑林区南关正街 88 号长安国际大厦 D 座 5/F 电话 : (029) 传真 : (029) 邮编 : 是德科技香港有限公司地址 : 香港北角电气道 169 号 25 楼电话 : (852) 传真 : (852) 香港热线 : 香港传真 : (852) 本文中的产品指标和说明可不经通知而更改 Keysight Technologies, 2014 出版号 : CHCN 原出版日期 : 2007 年 4 月新出版日期 : 2014 年 8 月

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CHCN_8-14_K.indd 是德科技三个理由让您选择深存储快响应示波器应用指南介绍 1. 更长的波形捕获时间 = / 1 1 Mpts 10 GSa/s 1 2 100 Mpts 10 1. = / 1 Mpts 10 GSa/s 1 ms 2. = / 100 Mpts 10 GSa/s 10 ms 3 12.5 Mpts 3 300 Kpts 3 3. 3 12.5 Mpts 3 300 Kpts? Agilent